CT440/CT440-PDL
Kompaktowy CT440 EXFO umożliwia szybkie i dokładne testowanie pasywnych komponentów optycznych (np. MUX/DEMUX, filtrów, rozgałęźników) i modułów (ROADM, WSS).
Urządzenie obejmuje zakres spektralny od 1240 do 1680 nm, umożliwiając pomiary w pełnym paśmie telekomunikacyjnym.
Przeszukiwanie całego pasma
CT440 (model SMF) może pracować w zakresie od 1240 do 1680 nm. Gdy używanych jest kilka TLS, CT440 może automatycznie przełączać się między laserami, aby umożliwić płynne pomiary w pełnym paśmie. Pojedyncze połączenie z testowanym urządzeniem oznacza, że nie jest wymagany zewnętrzny przełącznik.
Szybki pomiar tłumienia wtrąceniowego
CT440 oferuje unikalne połączenie szybkiej elektroniki i interferometrii optycznej. Cztery zintegrowane detektory umożliwiają jednoczesny pomiar czterech kanałów o zakresie dynamiki 65 dB za jednym przeciągnięciem laserowym. Co więcej, dokładność długości fali ±5 pm jest osiągana przy dowolnej prędkości przemiatania, więc nie ma kompromisu między szybkością pomiaru a dokładnością.
Dokładny pomiar tłumienia wtrąceniowego
CT440 to ekonomiczne rozwiązanie, które nie obniża wydajności. Dzięki fotodetektorowi monitorującemu, regulowanej rozdzielczości próbkowania, najwyższej dokładności długości fali i wbudowanemu wavemetrowi, zapewnia wszystko, czego potrzebujesz do dokładnych pomiarów w jednym pudełku po połączeniu z przestrajalnym źródłem lasera i komputerem.
Oprogramowanie dołączone do urządzenia pozwala na zarządzanie zestawem pomiarowym z komputera klasy PC przez przygotowane GUI oraz wykorzystują przygotowane biblioteki DLL.
CT440 posiada możliwość montażu w standardowej szafie Rack 19" (1U), więc mogą z niego korzystać nawet laboratoria z ograniczoną powierzchnią.
Zastosowanie
- Do 4 detektorów do pomiaru mocy
- Możliwość korelacji do 4 źródeł światła w ramach 1 cyklu pomiarowego (obsługuje pełne spektrum 1240-1680 nm)
- Intuicyjny i wszechstronny GUI
- Dokładność długości fali: ± 5 pm
- Zakres dynamiki do 65dB w ramach 1 cyklu
- Możliwość pomiaru strat polaryzacyjnych (PDL) dla 4 lub 6 stanów
- Wbudowany interferometr umożliwia generowanie wyników w funkcji długości fali
- Możliwość wyświetlania do 8 trace'ów jednocześnie
