Straty wtrąceniowe (IL) i odbiciowe (RL)
Straty wtrąceniowe (IL) i odbiciowe (RL)

Automatyczny miernik strat odbiciowych RL1

Zaprojektowany, aby wykonywać jak najdokładniejsze oraz bezbłędne pomiary strat odbiciowych (RL) oraz wtrąceniowych (IL).

 

RL1 jest w stanie przetestować nawet najbardziej wymagające systemy kablowe oraz komponenty dzięki inteligentnej, wbudowanej analizie.

W celu zakupu urządzenia skontaktuj się naszym inżynierem.

RL1 jest elastycznym rozwiązaniem, dostosowującym się do ciągle zmieniających się wymagań. Posiada modułową obudowę umożliwiając szybkie parowanie z urządzeniami z rodziny XN1 za pomocą połączenia USB.

RL1 może zawierać do 4 wbudowanych długości fali (850, 1300, 1310, 1490, 1550, 1625 oraz 1650 nm) z opcją podwójnego (duplex) portu wyjściowego na przednim panelu.
RL1 można połączyć nawet z czterema bezprzewodowymi, zdalnymi detektorami RD-S. Na nowo zaprojektowana sfera całkująca może mierzyć stratność na 72- kanałowych złączach MTP/MPO oraz duplex LC za pomocą jednego połączenia. RD-S jest w standardzie wyposażony w adaptery SD Slide Detector, które zapewniają łatwe użytkowanie.
Miernik optyczny został zaprojektowany z wieloma innowacyjnymi, inteligentnymi funkcjami, które zwiększają efektywność produkcji.

Zobacz także:
Straty wtrąceniowe (IL) i odbiciowe (RL)
EOTS system do testów klimatycznych
Zbudowany w tej samej technologii co przełomowy miernik RL1 oraz switch optyczny SX1, system EOTS zapewnia w pełni zintegrowane narzędzie do długoterminowego testowania komponentów optycznych. ...
Straty wtrąceniowe (IL) i odbiciowe (RL)
BR1 miernik odbić wstecznych
Miernik odbić wstecznych BR1 posiada wyjątkowo stabilną optykę pozwalającą na precyzyjne pomiary odbić wstecznych, strat wtrąceniowych oraz mocy.   BR1 może posiadać do 4 wbudowanych źró...
Straty wtrąceniowe (IL) i odbiciowe (RL)
OA1 tłumik optyczny
Umożliwia precyzyjną kontrolę mocy optycznej i charakteryzuje się wysoką dokładnością oraz powtarzalnością....
Straty wtrąceniowe (IL) i odbiciowe (RL)
WCS system testowania komponentów
Szerokopasmowy system testowania komponentów wykorzystuje przestrajalne w szerokim zakresie źródła laserowe (TLSS)   Dostarcza szybkie i wiarygodne pomiary w zakresach długości fa...

Ta strona wykorzystuje pliki cookie, aby świadczyć usługi na najwyższym poziomie. Dalsze korzystanie ze strony oznacza, że zgadzasz się na ich użycie. Więcej o plikach cookies przeczytasz w naszej Polityce prywatności .


Kontynuuj bez zatwierdzania