Analizator widma optycznego – OSA20


Najbardziej praktyczny i wydajny analizator widma optycznego na rynku.

Opis

SZYBKI

OSA20 jest najszybszym analizatorem widma optycznego tego typu z maksymalną prędkością przemiatania wynoszącą 2000 nm/s. Wykorzystuje stałą szerokość pasma monochromatora 20 pm i stałą rozdzielczość próbkowania dla wszystkich skanów. Oznacza to, że każdy pomiar wykonywany jest z najwyższą rozdzielczością i dokładnością. Prędkość przemiatania zależy wyłącznie od wyboru poziomu czułości.

DOKŁADNY

Technologia filtrowania od EXFO umożliwia stworzenie monochromatora z niezwykle precyzyjnym wykonaniem i małą ilością światła błądzącego. Moc jest zintegrowana przez kroki 2pm dając 225001 punktów danych na rozpiętości 450 nm. Pozwala to na analizę kanału DWDM do wartości odstępu wynoszącej 6,25GHZ. Urządzenie posiada wysoką dokładność długości fali w całym zakresie wynoszącą ±10pm dla 1500-1640 nm.

ŁATWY W UŻYCIU

Analizator OSA20 obsługiwany jest poprzez jedyny w branży 12-calowy pojemnościowy ekran sterowany gestami wielodotykowymi. Pozwala to na bardzo szybką nawigację, a także na intuicyjne przewijanie i powiększanie. Dostępna jest również możliwość podpięcia myszki i klawiatury pod interfejs USB.

Kluczowe cechy:

  • Zakres długości fali 1250-1700 nm
  • Dokładność długości fali wynosząca ±10pm dla 1500-1640nm i ±25pm dla 1250-1700nm
  • Rozdzielczość długości fali 20pm, regulowana w zakresie 50-2000pm
  • Dokładność poziomu mocy ±0,4dB
  • Prędkość przemiatania do 2000nm/s
  • Wbudowane źródło kalibracji
  • Intuicyjny interfejs użytkownika z 12-calowym ekranem dotykowym
  • 8 trybów analizy i pełny pakiet narzędzi analizy

Zastosowania:

  • Charakteryzacja sygnałów WDM (coarse WDM, dense WDM i ROADM)
  • Charakteryzacja źródeł laserowych typu Multiple-Longtidual (np. diody laserowe Fabry-Perot)
  • Analiza systemów transmisyjnych dalekiego zasięgu z pętlą recyrkulacyjną
  • Charakteryzacja wzmacniaczy światłowodowych (np. EDFA)
  • Charakteryzacja laserów jednomodowych (np. diody laserowe DFB lub EC)
  • Charakteryzacja źródeł szerokopasmowych (półprzewodniki, wzmacniacze światłowodowe/Raman, diody LED superluminescencyjne i o emisji krawędziowej)
  • Charakteryzacja komponentów pasywnych (np. filtry optyczne, izolatory i włókna)

 

Do pobrania
Zapytaj




    Zapytaj o produkt